型号及主要参数
厂家:Bruker(德国)
型号:DektakXT
主要参数:
最大扫描长度≥55mm
测试所允许的最大样品厚度≥50mm
垂直方向的扫描范围≥1000μm
测试高度方向的重复性≤0.4nm(1μm的标准台阶)
测试垂直分辨率≤0.1nm
用途及功能:
主要用于薄膜材料厚度测量。可获得精确定量的台阶高度,线粗糙度,薄膜曲率半径,应力测试,表面3D形貌等测试功能。
联系人: 殷老师
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